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X-Strata920 是一款高精度臺式 XRF 分析儀,,具有多種選擇,,可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測量各種基材上的鍍層,,是必須確定產品質量的電子產品,、連接器、裝飾品和珠寶分析的理想選擇,。
X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀的優(yōu)勢在于其多功能性,。您可以從多種配置中進行選擇,包括五種基本配置以適應不同尺寸的樣品,、六種準直器尺寸用于優(yōu)化分析不同尺寸的特征,,以及有助于加快測量過程同時保持準確性的附加自動化功能。X-Strata920 易于使用,,軟件直觀,,可由非專業(yè)人員操作,并可輕松融入您的生產或質量保證部門,。
產品亮點
X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀具有多種選項和多功能性,,可容納各種樣品,每次都能提供精確的分析,。
適應性設計,,可對各種產品進行可靠分析
自動對焦和可選的程控臺提高了準確性和速度
直觀的 SmartLink 軟件使測量和導出數(shù)據(jù)變得容易
多準直器設計為每個樣品提供高準確性
選擇適合應用的比例計數(shù)器或硅漂移檢測器 (SDD)
符合行業(yè)規(guī)范,例如 IPC-4552A,、ISO3497,、ASTM B568 和 DIN50987
簡單的樣品加載和快速分析可在幾秒鐘內提供結果
強大的光學分析單層和多層鍍層,包括合金層
對比型號
X-Strata920 (正比計數(shù)器) | X-Strata920 (硅漂移探測器) | |
元素范圍 | Ti – U | Ai – U |
樣品艙設計 | 開槽式 | 開槽式 |
XY 軸樣品臺 | 固定臺、加深臺,、自動臺 | 固定臺,、加深臺、自動臺 |
最大樣品尺寸 | 250(寬)x200(深)x50(高)mm | 250(寬)x200(深)x50(高)mm |
最大準直器數(shù) | 6 | 6 |
最大濾光片數(shù) | 3 (secondary) | n/a |
最小準直器 | 0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil) | 0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil) |
最大樣品臺行程 | 178 x 178 mm | 178 x 178 mm |
SmartLink 軟件 | ?? | ?? |
詢價 | 詢價 |